廈門高低溫交變試驗(yàn)箱/高低溫交變試驗(yàn)箱廠家/報(bào)價(jià)-德儀 高低溫交變試驗(yàn)箱： 適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)； 是各類電子、電工、電器、塑膠等原材料和器件進(jìn)行耐寒、耐熱、耐干性試驗(yàn)及品管工程的可靠性測試設(shè)備； 特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。 高低溫交變試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn): 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件: GB10589-2006 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件: GB10592-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件: GB11158-2006 低溫試驗(yàn)方法A: GB/T2423.1-2001(IEC68-2-1) 高溫試驗(yàn)方法B: GB2423.2-2001(IEC68-2-2) 高溫壽命試驗(yàn): GJB360.8-87(MIL-STD-202F) 高溫試驗(yàn)方法: GJBl50.3-86(MIL-STD-810D) 低溫試驗(yàn)方法: GJBl50.4-86(MIL-STD-810D) 高低溫交變試驗(yàn)（僅濕熱型）: GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備 : GB/T5170.2-1996