三磊電子結合數十年的新產品研發經驗，研制的微焦點X射線數字顯微系統具有體積小、重量輕、集成度高、操作簡單等特點。 產 品 說 明 系統包含0.5微米微焦點X射線機、影像增強儀或數字成像板、多功能圖像分析軟件和多自由度載物臺。具有檢測速度快和放大倍數高（最高可達到1萬倍）等特點，是半導體界非破壞性檢查內部結構和缺陷最有效的工具之一。 應用范圍： 集成電路（IC）封裝中的缺陷，如：層剝離、爆裂、空洞以及引線的完整性檢驗。 印刷電路板制造中可能產生的缺陷，如﹕對齊不良或橋接。 傳感器檢驗。 晶圓式芯片封裝。 各式連接線路中可能產生的開路，短路或不正常連接的缺陷檢驗。 錫球陣列封裝及覆晶片封裝中錫球的完整性檢驗。 技術特性： 　　 ◆ 最大電壓：160KV 　　 ◆ 焦點尺寸：0.5μm 　　 ◆ 最大電流：500μA 　　 ◆ 放大倍數：2000～9000 　　 ◆ 視野：153mm×153mm 　　 ◆ 最大尺寸：440mm×550mm 　　 ◆ 操作系統：WindowsXp 　　 ◆ 最大承重：5Kg 蘭州三磊電子有限公司是國內最早專業從事Ｘ射線數字成像設備開發、生產和銷售的高科技企業，擁有一支由博士、研究生等組成的高水平研發隊伍。公司成立13年來，堅持走產學研相結合之路，注重技術創新和自主研發，先后完成3項具有國際先進水平的科研成果，獲得了7項專利授權，倡導并參與制定了2項國家標準。產品廣泛應用于航空航天、軍工、鍋爐壓力容器、鋼管制造、長輸管線檢測、核工業、汽車、電力電子等多個行業。 電話：0931-8550365 8550366 8550285 傳真：0931-8550286 郵箱：info@sanlei.com 網址：www.sanlei.com www.sanleidz.com 詳情咨詢蘭州三磊電子。